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La plate-forme de nano-caractérisation se maintient au top niveau


Les deux microscopes électroniques en transmission Titan de la plate-forme de nano-caractérisation ont subi d’importantes évolutions. Plus que des images, ils permettent aujourd’hui d’obtenir des informations fines sur la chimie des matériaux analysés.

Publié le 1 juin 2017

Afin de maintenir les équipements de la plate-forme de nano-caractérisation (PFNC) à l’état de l’art mondial, les laboratoires partenaires les font régulièrement évoluer. Cette année, ce sont les microscopes électroniques en transmission (MET) qui ont été agrémentés de nouvelles fonctionnalités.

Ainsi, le MET Titan Themis a été doté de deux spectromètres permettant, conjointement, d’obtenir des informations complémentaires sur la composition chimique des matériaux analysés, ainsi que sur les liaisons chimiques et les propriétés optoélectroniques des éléments jusqu’à l’échelle atomique. Quant au MET Titan Ultimate, qui détient le record mondial de résolution spatiale avec 50 picomètres, il a été agrémenté d’une caméra CMOS ultrarapide.

« En associant cette caméra avec un porte-objet instrumenté, il devient possible de réaliser des observations in situ ou in operando, explique un chercheur. Ainsi, on peut visualiser des phénomènes dynamiques dans les échantillons : les mouvements des atomes sur les matériaux 2D comme le graphène, ou encore les changements de phase des matériaux, comme dans le cas des mémoires. »

De nombreuses études menées dans les trois instituts partenaires de la PFNC requièrent de telles observations : batteries et piles à combustible, photovoltaïque, microélectronique, électronique de puissance, etc.

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